问答题
案例分析题试为下述分析工作选择你认为恰当的（一种或几种）分析方法
某半导体的表面能带结构测定。
【参考答案】
紫外光电子能谱（UPS），或X射线光电子能谱（XPS），或紫外可见吸收光谱（UV-VIS），最好是紫外光电子能谱（UPS......
(↓↓↓ 点击下方‘点击查看答案’看完整答案 ↓↓↓)
点击查看答案
相关考题
-
问答题
某聚合物的价带结构分析 -
问答题
固体表面元素定性分析及定量分析 -
问答题
淬火钢中孪晶马氏体与位错马氏体的形貌观察
