在半导体生产中，为了测定硅片上的二氧化硅薄膜的厚度，将薄膜一端做成劈尖状，如图所示，用波长λ=546.1nm的绿光从空气中垂直照射硅片，在垂直方向观测到二氧化硅劈尖上出现八条暗纹，第八条是劈尖与平行平面膜的交线M，若取二氧化硅的折射率n₂=1.5，硅的折射率n₃=3.4，
（1）二氧化硅薄膜的厚度是多少？
（2）劈尖的棱边N是明纹还是暗纹？为什么？