相关考题
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多项选择题
缺陷测长法包括（）。
A.端部回波峰值法
B.绝对灵敏度法
C.端点峰值法
D.相对灵敏度法 -
多项选择题
观片室工作环境要求是（）。
A.单独布置
B.室内光线明亮
C.室内光线偏暗
D.和其他工作室隔离 -
多项选择题
如果分子的势能改变了，说明（）改变了。
A.物体的体积
B.物体的形态
C.物体的物态
D.物体材质特性
